长鑫存储ATE测试开发工程师-ATE Development Engineer(J13159)
任职要求
1. 教育背景与专业知识：本科及以上学历，微电子/集成电路/电子信息/通信/自动化/计算机及相关专业，具备数字逻辑电路与半导体测试基础理论； 2. 专业技能与资格：至少熟悉一种常用编程语言（如C/C++、Python等），具备良好的程式框架设计能力，熟悉芯片测试原理及DFT方案设计验证流程； 3. 行业与专业经验…
工作职责
1. 测试程序开发与功能验证：主导DRAM芯片ATE测试程序开发，完成逻辑功能验证，确保测试覆盖率和程序可靠性； 2. 新产品与制程验证分析：主导新产品及新制程芯片的逻辑功能仿真、电性验证与异常分析，评估测试覆盖率并驱动改善； 3. DFT方案设计评估与优化：与Designer协同对新产品DFT方案进行评估与优化，完成产品DFT功能验证及Issue分析闭环； 4. 测试异常分析与效率优化：主导测试异常处置与问题澄清，持续优化ATE测试程序效率，缩短测试时间； 5. 测试硬件设计与验证：评估并验证芯片测试硬件方案，确保硬件设计满足测试需求。
1.项目测试方案评估： 负责新一代memory产品可测性评估 & 测试flow 搭建 2.测试程序开发与功能验证： 负责新产品&新工艺产品测试程序开发，完成电性功能、高速数字信号性能验证，评估测试覆盖率并驱动改善； 3.DFT方案设计评估与优化：与Designer协同对新产品DFT方案进行评估与优化，完成产品DFT功能验证及设计Issue分析闭环； 4.冗余修补算法： 存储芯片冗余（redundancy）修补分析程序开发，修补算法研发, 下一代存储芯片冗余设计方案评估，以及fuse 功能验证 5.测试效率优化：持续优化ATE测试程序效率，缩短测试时间，降低成本 6.测试硬件设计与验证：评估并验证芯片测试硬件最优方案，确保硬件设计满足测试需求 7.测试软件工程环境建设：ATE CP/FT软件工程环境建设，测试流程控制开发，测试过程及结果资料处理
职位描述： 1. 负责芯片ATE测试方案的制定，优化测试覆盖率、良率和测试成本，支持大规模量产； 2. 开发和优化ATE测试程序，确保测试稳定性和效率，并推动测试平台的改进； 3. 进行芯片特性分析，优化测试参数，支持量产爬坡及产品性能验证； 4. 结合DFT技术进行芯片调试和故障定位，提升测试可测性和良率； 5. 分析量产测试数据，持续优化测试流程，提升测试稳定性和产品一致性； 6. 协助制定和执行可靠性测试方案，支持筛选、回测及失效分析，确保芯片质量。
1. 测试程序开发与功能验证：主导DRAM芯片ATE测试程序开发，完成逻辑功能验证，确保测试覆盖率和程序可靠性； 2. 新产品与制程验证分析：主导新产品及新制程芯片的逻辑功能仿真、电性验证与异常分析，评估测试覆盖率并驱动改善； 3. DFT方案设计评估与优化：与Designer协同对新产品DFT方案进行评估与优化，完成产品DFT功能验证及Issue分析闭环； 4. 测试异常分析与效率优化：主导测试异常处置与问题澄清，持续优化ATE测试程序效率，缩短测试时间； 5. 测试硬件设计与验证：评估并验证芯片测试硬件方案，确保硬件设计满足测试需求。
1、根据芯片产品规格与测试需求，与芯片/光学设计人员、产品经理合作，负责制定CPO/NPO与硅光产品有竞争力的、高质量低成本的量产 ATE 测试方案，覆盖EIC/PIC和OE集成模块。 2、根据测试方案，在相应 ATE 平台上开发软/硬件测试系统，含电测试资源与光子子系统（光源、光路对准/耦合、光功率与光谱测量），并导入测试厂/光子封测厂支撑大批量量产。 3、制定并实施CPO/NPO ATE characterization 测试方案，摸底器件的光/电特性，从覆盖率、精度与测试时间上优化测试程序。 4、构建晶圆级光学探针测试与模块级光I/O/光纤阵列耦合测试能力；推动自动光路对准及主动/被动对准策略，实现稳定、高通量的量产测试。 5、协助产品工程师制定光器件及模块的可靠性测试方案，支撑可靠性测试的筛选与回测，确保芯片质量。 6、收集并分析量产测试数据（良率/datalog），负责量产测试维护，针对电参数与光参数的低良分析、事故处理等