长鑫存储量测研发专家-TD Metrology Expert(J17850)

1. 量测方案制定与管理：参与新产品研发，主导工艺量测方案的制定与管理，执行制程量测方案，确保量测条件满足研发需求； 2. 新设备评估与导入：配合新工艺开发需求，主导量测新设备的评估、验证与导入，推动设备能力满足工艺目标； 3. 量测方案优化：持续改善和优化量测方案，确保产线数据的真实性与准确性，服务于产品工艺改善与良率提升； 4. 异常侦测与根因分析：及时侦测量测数据及SPC相关异常事件，定位root cause，推动PE/PIE团队进行改善并闭环； 5. 数据分析系统优化：运用统计学方法进行数据分析，优化量测数据分析系统，强化数据关联性，推动量测分析智能化。

1.熟悉光刻工艺流程，熟悉光刻相关overlay control原理； 2.熟悉APC/R2R 原理； 3.熟悉IBO/DBO Mark设计及评估，了解光源信息，了解OPC相关知识； 4.熟练setup A750 OVL recipe 并进行ARO 对recipe进行verification； 5.熟练使用EDA 软件进行DB output, 了解DRC； 6.熟练运用MSA 手段对量测结果进行验证； 7.熟练setup CDSEM recipe(AMAT/HITACHI)； 8.PFA/TEM 实验申请及报告解读； 9.在线量测异常（如：生产线突发异常，SPC报表异常等）诊断； 10.熟悉统计学基本原理。

1. 新工艺量测方案制定：参与新产品的研发，主导工艺量测方案的制定与管理，执行制程量测方案，确保量测数据准确支持工艺开发； 2. 新设备评估与导入：配合新工艺开发需求，主导新量测设备的评估、验证与导入，确保设备满足研发技术要求； 3. 量测方案优化：推动量测方案的持续改善与优化，确保产线数据真实性，服务于产品工艺改善与良率提升； 4. 异常侦测与闭环：侦测量测数据及SPC相关异常事件，寻找根因，并推动工艺与工艺整合工程师进行改善闭环； 5. 数据分析与系统优化：运用统计学方法进行数据分析，优化量测数据分析系统，强化数据关联性，推动量测流程的智能化迭代。

1.参与新产品的研发，负责设计及开发先进半导体制程量测方案； 2.熟悉工艺流程及各种量测原理， 并熟练通过多种测量技术交叉使用及数据图像处理技术等，开发实时、灵敏与高效的在线检测方法，协助工艺开发及控制制程工艺的稳定； 3.熟练运用MSA手段对量测结果进行验证； 4.PFA/TEM 实验申请及报告解读； 5.在线量测异常 (如:生产线突发异常, SPC报表异常…等)诊断。