长鑫存储缺陷分析研发专家 | Defect Analysis TD Expert(J14067)
社招全职5年以上量产技术类地点：北京状态：招聘
任职要求
1. 硕士及以上，CET-6及以上, 较强的英语读写能力； 2. 具有缺陷分析Defects, Detection领域5年以上相关经验； 3. 较强的学习能力,吃苦耐劳精神和团队合作精神； 4. 拥有良好的沟通协调能力。
工作职责
1. 参与新产品的研发，工艺缺陷的定义和管理，设计开发制程检测方案； 2. 配合新工艺开发需要，评估、导入新设备，本土化设备导入及应用开发提升； 3. 工艺缺陷检测方案优化及改进,确保产线缺陷数据的真实,服务于产品工艺改善与良率提升； 4. 工艺缺陷问题及时侦测, 寻找root cause，并推动PE/PIE共同进行改善； 5. 运用统计学方法数据分析,优化缺陷数据分析系统,强化数据关联性,推动其智能化； 6. 协调跨部门合作，与量产部门合作，转移新研发的缺陷检测技术，确保成功量产。
包括英文材料
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更新于 2025-09-19
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1. 负责CMP工艺的研发与优化，确保工艺的稳定性和一致性，以满足半导体器件的高精度制造需求； 2. 通过数据分析，监控CMP工艺过程中的参数，确保产品质量，减少缺陷率，提高良品率； 3. 当遇到工艺问题时，进行故障排查，分析原因，提出并实施有效的解决方案； 4. 为研发团队提供CMP工艺的技术指导，协助解决生产中遇到的问题，提升生产效率； 5. 参与跨部门项目，与材料供应商、设备制造商等合作，共同推进新技术和新材料的应用； 6. 对新员工进行CMP工艺的培训，分享专业知识和实践经验，提升团队整体技术水平。
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1.光罩制作技术开发; 2.光罩相关问题分析处理; 3.管理系统建立与开发； 4.整体品质监控管理； 5.光罩相关本土化设备评估导入 6.CDC操作与开发。
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更新于 2025-09-19