长鑫存储研发良率与缺陷改善专家 I TD Defect Yield Enhancement Expert(J15284)

1. 在新technology 交付前6个月参与研发项目，将新技术转移到工厂 2. 将 product 的综合良率提升至相对成熟水平 3. 负责新平台衍生产品的开发工作，对产品交付负责 4. 负责产线缺陷问题的改善, 实现对新制程的良好监测, 确保产线缺陷数据的真实与稳定，服务于产品工艺与良率提升 5. 运用统计学方法数据分析,优化缺陷数据分析系统,强化数据关联性,推动其智能化； 6. 协调跨部门合作，与研发与量产部门合作，稳步降低defect yield loss。

1. 参与新产品的研发，工艺缺陷的定义和管理，设计开发制程检测方案； 2. 配合新工艺开发需要，评估、导入新设备，本土化设备导入及应用开发提升； 3. 工艺缺陷检测方案优化及改进,确保产线缺陷数据的真实,服务于产品工艺改善与良率提升； 4. 工艺缺陷问题及时侦测, 寻找root cause，并推动PE/PIE共同进行改善； 5. 运用统计学方法数据分析,优化缺陷数据分析系统,强化数据关联性,推动其智能化； 6. 协调跨部门合作，与量产部门合作，转移新研发的缺陷检测技术，确保成功量产。

1.研发产品缺陷检测计划制定，依据工艺和设计，架构的理解制定相应的缺陷检测方案； 2.保证研发线缺陷技术的应用，实现对新制程的良好监测； 3.负责产线缺陷问题改善，服务于产品工艺与良率提升； 4.与整合工程师与工艺工程师合作共同推进产品的研发与量产； 5,积极创新思维，推动新技术、产品或服务的开发。

1.以先进的量测检测技术研发驱动高效的研发在线质量提升 2.在新产品研发过程中，负责设计及开发制程量测和检测方案，缩短研发周期以确保平台研发的按时交付 3.依据量测检测数据，跨部门合作驱动在线良率改善和可靠性相关缺陷问题改善 4.负责协调与量产部门合作，转移新研发量测检测技术和在线质量改善方案，确保成功量产 5.负责量测检测本土化设备导入及制程应用开发提升