长鑫存储ATE测试分析工程师 I ATE Test Engineer(J15604)

社招全职研发技术类2025-09-19地点：合肥状态：招聘

扫码手机上打开

任职要求

1. 教育背景 本科以上学历；
2. 专业背景 电子/电机工程，电气自动化，应用数学，半导体物理与器件、模拟与数字电路设计、计算机、微电子等理工类专业；
3.工具技能 具备DRAM/FLASH内存基本概念和知识，具备Advantest/Teradyne等存储测试系统软硬件实践经验和工作实绩从优；
4. 职业资格 精通半导体ATE测试设备、治具、量产测试相关研发至生产导入验证工作，熟悉相关领域供应商并具备供应商管理经验，熟悉测试程序研发与调试；
5.通过研发测试程序进行波形与数据分析定位故障原因或评价新设备、国产化设备、新治具等的测试系统性能, 熟悉ADVANTEST/TER 的PAT 编写。

工作职责

1． 负责ATE测试解决方案的测试程序开发认证，包含新量产平台建设和评估验证、国产化测试方案的评估导入、现有测试方案的持续优化和降本增效相关工作；
2． 负责测试设备的综合问题根因调查分析，数据统计等，包含验证用途测试程序的开发调试、波形的分析、芯片测试结论数据的分析统计和有关报告的整理； 
3． 负责新产品、新工艺、新测试方案下的的测试治具的设计的程序调试、验证和导入工作；
4． 通过研发测试程序进行波形与数据分析定位故障原因或评价新设备、国产化设备、新治具等的测试系统性能；

📮 投递简历 ✨AI模拟面试

难度：

包括英文材料

学历+

数据分析+

相关职位

DRAM电路设计工程师（DFT） I DRAM Circuit Design Engineer（DFT）(J16545)

社招电路设计类

1.芯片级DFT架构定义和设计：参与芯片DFT架构的定义和设计，确保芯片设计满足可测试性要求。 2.采用全定制电路设计方法和低功耗电路设计方法学完成DFT电路设计、仿真和优化等工作，包括压缩测试模式、MBIST（Memory Built-In Self-Test）等。 3.协助测试工程师进行ATE（Automatic Test Equipment）silicon分析，debug测试failure，提高芯片良率。 4.负责DRAM DFT设计与测试软硬件协同，帮助实现测试效率提升和测试成本缩减。 5.与其他团队协作：包括指导版图团队进行相关电路布局布线、协同验证团队进行电路调试和问题解决、与测试团队合作进行DFT需求管理与设计实现等。

更新于 2025-09-19

研发良率性能分析工程师 I TD YIM Engineer(J15271)

社招2年以上研发技术类

1.新产品良率电性测试分析, 根据测试诊断确认电性失效模型. 2.新产品功能验证,参数特性测试验证, 推动 Design, Device, PIE, PE 进行参数优化调整 3.测试程式编写以及优化，新测试方案以及模式开发以辅助产品失效分析

更新于 2025-09-19

ATE测试开发工程师 I ATE Development Engineer(J13159)

社招1年以上研发技术类

1.负责DRAM芯片测试程序开发与逻辑功能验证； 2.负责新产品&新制程芯片逻辑功能仿真、电性验证与异常分析, 测试覆盖率评估； 3.负责新产品新设计DFT方案建议与designer评估与优化, 产品DFT功能验证及Issue 分析； 4.测试异常处置、分析及测试问题澄清； 5.芯片测试硬件设计评估及验证； 6.ATE测试程序测试效率优化。

更新于 2025-09-19

CP测试工程师 I TD CP Testing Engineer(J16563)

社招5年以上研发技术类

工作职责 1.负责芯片CP测试及方案(DRAM/KGSD相关items); 2.负责硬件及程式的开发调试，提高测试数据可信度; 3.负责编写和整理测试程式包; 4.负责测试数据的分析，整理与汇报; 5.完成主管上级分配的其他工作。

更新于 2025-09-19