长鑫存储ATE测试分析工程师 I ATE Test Engineer(J15604)
任职要求
1. 教育背景 本科以上学历；
2. 专业背景 电子/电机工程，电气自动化，应用数学，半导体物理与器件、模拟与数字电路设计、计算机、微电子等理工类专业；
3.工具技能 具备DRAM/FLASH内存基本概念和知识，具备Advantest/Teradyne等存储测试系统软硬件实践经验和工作实绩从优；
…工作职责
1． 负责ATE测试解决方案的测试程序开发认证，包含新量产平台建设和评估验证、国产化测试方案的评估导入、现有测试方案的持续优化和降本增效相关工作； 2． 负责测试设备的综合问题根因调查分析，数据统计等，包含验证用途测试程序的开发调试、波形的分析、芯片测试结论数据的分析统计和有关报告的整理； 3． 负责新产品、新工艺、新测试方案下的的测试治具的设计的程序调试、验证和导入工作； 4． 通过研发测试程序进行波形与数据分析定位故障原因或评价新设备、国产化设备、新治具等的测试系统性能；
-根据芯片设计需求，与DFT紧密合作，制订芯片ATE测试方案，保证芯片测试覆盖率 -负责CP/FT测试程序开发、调试及相关测试向量的准备工作，按项目要求输出相关测试文档和报告 -根据芯片产品开发需求，制定并执行芯片ATE测试计划 -负责ATE测试硬件的设计和准备工作(含Load Board，probe card，socket，Changekit等) -NPI阶段负责开发CHAR/DVS/HTOL等工程验证程序，支持芯片验证工作 -量产阶段负责测试数据跟踪分析，优化测试方案、提高覆盖率、优化测试时间、降低测试成本（Cost down），解决量产过程中的测试稳定性问题，为良率持续改善与失效分析提供技术支持 -根据项目需求，负责测试产能建设，验证和管理量产测试Tooling，达到产能建设目标 -团队协作，遵守流程规范，保证项目进度和质量 -与FT测试工程师一起与研发设计团队对接，完成分Bin冗余测试，并在量产后实现分Bin测试
-负责制定SOC/ASIC芯片的DFT设计方案和测试方案 -负责DFT电路的实现和验证，优化DFT设计流程，包括MBIST、SCAN、Boundary Scan以及其它可测试性电路设计 -pattern生成和仿真，优化测试覆盖率 -协助团队完成整个芯片的sign-off -与ATE测试团队配合快速解决调试过程中的问题，协助完成测试failure的分析和良率提升，顺利实现芯片量产测试
1.负责内存内存颗粒技术选型，设计DRAM颗粒测试方案和颗粒准入标准； 2.负责内存测试方案的设计、开发和优化，确保内存产品的质量和性能； 3.负责介质级失效分析，开发定制化测试pattern，协助解决内存设计和生产中的质量问题； 4.制定和改进内存测试标准和流程，提高测试效率和质量； 5.跟踪最新的内存测试技术和工具，持续提升测试团队的技术水平。
1、负责SoC芯片中的DFT相关工作，包括Scan，MBIST，ATPG，Boundary Scan等等； 2、和其他团队合作，完成芯片设计过程中相关的Timing/Power-IR分析和收敛； 3、流片后进行ATE测试，包括向量调试，覆盖率优化，解决测试中遇到的各种问题。