长鑫存储存储array测试与失效分析工程师-Storage Array Test and Failure Analysis Engineer(J17245)

1.团队建设与人才培养： 组建并领导存储产品阵列特性分析团队，制定团队发展和培训计划，主导项目分配、绩效评估和技术指导； 2.阵列电学特性表征与优化： 主导存储阵列与memory cell特性的电学表征和优化，包括编程/擦除性能表征、存储阵列保持能力、耐久度、读干扰和写串扰等关键指标； 3.测试算法开发与方案导入： 开发并优化阵列级测试算法，搭建阵列测试流程，与测试工程师合作导入测试方案，推动最终方案的落地和实施； 4.失效模式定位与工艺改进： 协同工艺集成、器件和良率工程团队，定位阵列层面失效模式，提出工艺改进建议并跟踪验证效果； 5.下一代产品特性评估： 主导下一代产品的器件和阵列特性评估，为工艺开发提供数据依据和方向指引，与设计、工艺整合、测试、可靠性等多团队紧密配合，推动从研发到量产的顺利过渡。

1. 制定新产品的整体导入策略与测试计划，统筹管理项目时程，确保项目从产品验证到量产导入的全过程准时达交； 2. 协调PTE内外功能部门进行产品功能性验证，确保资源效率最大化，统筹解决工艺或设计问题，推动问题最终闭环解决。

1.主导DRAM电性失效分析及电路原理拆解，提供技术性指导，推动失效根因定位与闭环； 2.掌握DRAM测试pattern sequence原理及模拟验证方法，并能对团队进行技术性指导。

1、负责快手超大规模分布式存储，包括文件存储、对象存储、块存储等分布式存储系统的日常维护，保障服务高可用和高可靠性； 2、管理大规模存储引擎资源，从资源的申请、交付、使用、治理的全流程运营，保障资源运行效率以及控制容量风险； 3、建设大规模存储系统运维平台和工具，保障数万规模存储系统操作效率以及操作质量； 4、负责服务的监控报警、巡检管理，为线上的稳定性负责。