长鑫存储存储array测试与失效分析工程师 I Storage Array Test and Failure Analysis Engineer(J17245)

1.研发新产品FT导入； 2.研发新产品的FT array测试和speed性能测试； 3.研发阶段的FT良率监控，数据分析，不良样品的电性分析和良率改善； 4.研发阶段的产品FT测试覆盖率的提升； 5.研发新产品的FT测试程式维护。

1.理解和掌握DRAM的工作原理 2.掌握DRAM的CP工程测试的能力； 3.与器件工程师和产品工程师合作，发现Chip中器件相关的低良率问题并解决； 4.开发新的产品/架构中Array的测试方法； 5.对测试中遇到问题需及时主动反应与沟通；

DRAM新产品存的PTE产品跨部门项目负责人(核心存储阵列方向) ,负责统筹新产品从产品验证到产品量产导入,包括设计验证,测试流程优化,良率提升。 （1）制定新产品的整体新产品导入策略、测试计划、管理项目时程，确保项目准时达交； （2）负责协调PTE内外功能部门进行产品功能性验证确保效率资源最大化并统筹工艺或设计问题，确保问题最终获得解决；

1.理解和掌握某个技术的制造流程、工作原理，以及相对应的物理机制； 2.基于完整的工艺流程、具体工艺菜单、工艺版图与物理架构来建立TCAD工艺仿真平台，基于相应的操作机理、电学测量条件建立TCAD器件仿真平台； 3.基于实际的工艺和器件数据校准工艺和器件仿真的模型及其参数； 4.与工艺整合和器件工程师合作，了解技术和器件现存的问题； 5.对校准中遇到问题需及时主动反应与沟通。