长鑫存储ATE测试开发工程师 | ATE Development Engineer(J15497)
任职要求
1. 本科及以上学历，电子，电气，半导体材料，通信，测控以及自动化相关专业；微电子、电子信息、电子工程等相关专业优先
2. 具半导体领域1年以上工作经验，熟悉半导体测试系统，Advantest/Teradyne ATE设备尤佳
3. 熟悉芯片测试原理及DFT方案设计验证…工作职责
1.负责DIMM/模组 ATE测试程序开发与逻辑功能验证 2.负责新产品&新制程芯片逻辑功能仿真、电性验证与异常分析, 测试覆盖率评估 3.负责新产品新设计DFT方案建议与designer评估与优化, 产品DFT功能验证及Issue 分析 4.测试异常处置、分析及测试问题澄清 5.芯片测试硬件设计评估及验证 6.ATE测试程序测试效率优化
-根据芯片设计需求，与DFT紧密合作，制订芯片ATE测试方案，保证芯片测试覆盖率 -负责CP/FT测试程序开发、调试及相关测试向量的准备工作，按项目要求输出相关测试文档和报告 -根据芯片产品开发需求，制定并执行芯片ATE测试计划 -负责ATE测试硬件的设计和准备工作(含Load Board，probe card，socket，Changekit等) -NPI阶段负责开发CHAR/DVS/HTOL等工程验证程序，支持芯片验证工作 -量产阶段负责测试数据跟踪分析，优化测试方案、提高覆盖率、优化测试时间、降低测试成本（Cost down），解决量产过程中的测试稳定性问题，为良率持续改善与失效分析提供技术支持 -根据项目需求，负责测试产能建设，验证和管理量产测试Tooling，达到产能建设目标 -团队协作，遵守流程规范，保证项目进度和质量 -与FT测试工程师一起与研发设计团队对接，完成分Bin冗余测试，并在量产后实现分Bin测试
-负责制定SOC/ASIC芯片的DFT设计方案和测试方案 -负责DFT电路的实现和验证，优化DFT设计流程，包括MBIST、SCAN、Boundary Scan以及其它可测试性电路设计 -pattern生成和仿真，优化测试覆盖率 -协助团队完成整个芯片的sign-off -与ATE测试团队配合快速解决调试过程中的问题，协助完成测试failure的分析和良率提升，顺利实现芯片量产测试
1.负责内存内存颗粒技术选型，设计DRAM颗粒测试方案和颗粒准入标准； 2.负责内存测试方案的设计、开发和优化，确保内存产品的质量和性能； 3.负责介质级失效分析，开发定制化测试pattern，协助解决内存设计和生产中的质量问题； 4.制定和改进内存测试标准和流程，提高测试效率和质量； 5.跟踪最新的内存测试技术和工具，持续提升测试团队的技术水平。
1、负责SoC芯片中的DFT相关工作，包括Scan，MBIST，ATPG，Boundary Scan等等； 2、和其他团队合作，完成芯片设计过程中相关的Timing/Power-IR分析和收敛； 3、流片后进行ATE测试，包括向量调试，覆盖率优化，解决测试中遇到的各种问题。