长鑫存储ATE测试开发工程师|ATE Development Engineer(J16963)

1.负责DIMM/模组 ATE测试程序开发与逻辑功能验证 2.负责新产品&新制程芯片逻辑功能仿真、电性验证与异常分析, 测试覆盖率评估 3.负责新产品新设计DFT方案建议与designer评估与优化, 产品DFT功能验证及Issue 分析 4.测试异常处置、分析及测试问题澄清 5.芯片测试硬件设计评估及验证 6.ATE测试程序测试效率优化

1.测试流程控制程序开发与验证 2.测试过程的数据逻辑处理与测试资料整合 3.工程开发环境建制 4.测试辅助工具开发和维护

1. 负责DRAM芯片测试程序的新特性功能开发与维护，测试用例的优化与验证，测试覆盖率的评估及提升； 2. 使用ATE测试机台对DRAM芯片进行问题调测分析，根因分析等； 3. 根据ATE测试机台手册，对测试机台进行设定和调测，功能开发等； 4. 与团队成员合作，确保产品项目的充分验证与按时交付；

1.负责量产阶段器件电性测试,为器件和工艺开发提供高质量的数据支撑; 2.熟悉标准WAT 测试机台和构造，有能力评估测试机台性能和设备需求 3.熟练WAT开发，测试算法实现量产或研发中电性测试需求; 4.解决WAT机台和测试项目的测试问题，有能力对测试问题进行debug 5.基本的CMOS器件特性分析。