长鑫存储失效分析工程师 I PFA Engineer(J15229)

1. SEM机台操作, 拍图量测； 2. 奈米探针机台操作, 量MOS IV； 3. DRAM样品研磨制备, 结构认识； 4. 化学室操作， Excel绘图, power point编辑报告； 5. PFA报告系统操作，协助晶圆报废, 数量清点。

作为良率分析工程师，具备DOE 设计，产品表征，数据分析，确认产品良率的损失原因并提出改善方向的能力。同时，需要协助Device和PI完成新产品的开发，开发并维护CP及defect 良率分析系统。 1. CP/WAT/In-line相关数据分析。 2. 对DOE设计，版图和工艺改良，能够提出良好的建议。 3. 制定良率提升计划。

工作职责: 1.负责 DRAM失效分析，并提供针对性的测试方案； 2.熟悉ADVANTEST机台 Memory测试，制定和优化测试方案并分析测试数据； 3.从质量和成本角度,优化测试策略；

1.新产品良率电性测试分析, 根据测试诊断确认电性失效模型. 2.新产品功能验证,参数特性测试验证, 推动 Design, Device, PIE, PE 进行参数优化调整 3.测试程式编写以及优化，新测试方案以及模式开发以辅助产品失效分析