长鑫存储失效分析工程师-Failure Analysis Engineer(J16422)
任职要求
1. 教育背景与专业知识：本科及以上学历（若有Nano Probe相关工作经验，可放宽至大专），微电子、材料、物理、化学等理工科相关专业优先； 2. 专业技能与资格…
工作职责
1. PFA案件分析与报告：独立完成物理失效分析案件的全流程操作，包括样品制备、数据采集及分析报告的撰写与输出； 2. 分析机台应用与维护：熟练掌握PFA分析机台的机理、应用及日常维护，确保设备处于可用状态； 3. 分析结果共享与协作：向其他部门分享PFA分析结果，推动问题分析与改善的跨团队协同； 4. 项目支持：协助主管完成相关Project，承担分配的任务并按节点交付； 5. 技术改善与传承：推动PFA分析技术的改善与开发，完成技术经验的文档化传承； 6. 实验室维护：负责PFA Lab的日常维护，确保实验室环境与设备运行符合规范。
工作职责 1. 产品导入验证：主导研发产品导入及IP验证分析工作，制定分析方案并输出验证结论； 2. 电性失效分析：主导研发产品和量产产品的电性失效分析，定位问题根因并推动改善闭环； 3. 新结构分析与协同：主导研发产品核心存储区域的阵列晶体管新结构验证与分析，协同设计与工艺部门完成问题解决与方案落地。
1. TEM案件分析与制样：主导基础及进阶TEM案件分析，完成高难度FIB制样，输出分析报告，解决分析过程中的技术难题； 2. 机台运维与产能保障：挖掘并解决工艺制程潜在问题，维持量产及产能扩展，设计实验改善分析流程，快速解决机台故障导致的产出下降，协调人力分配并对案件分析结果提出专业意见； 3. 异常根因分析：解读失效分析需求，对比工艺查找缺陷异常的根本原因，分析产品关键尺寸异常，快速定位问题来源，通过分析手法锁定缺陷层别，协同设备或defect team讨论处置措施并确认根本原因； 4. 新分析方法开发：改良现有制样流程，建立新分析程序或手法，开发更高效率、高良率和高稳定性的分析方法，推动技术升级。
1. 高速信号与协议时序分析：主导DRAM高速信号和协议时序的测量与分析，输出系统性测试报告； 2. 系统失效分析与定位：负责DRAM新产品及相关新平台各阶段发生的系统失效量测分析，定位根因并给出结论； 3. UIP测试执行：系统相关新平台的UIP测试执行与熟练掌握，确保测试覆盖度与准确性； 4. 新测量设备导入与使用：主导新测量设备的导入与学习使用，提升测试能力边界； 5. 测量方法研究与改进：研究和改进设备测量方法，丰富测量手段，提高测量准确度与效率。
1.负责 DRAM失效分析，并提供针对性的测试方案； 2.熟悉ADVANTEST机台 Memory测试，制定和优化测试方案并分析测试数据； 3.从质量和成本角度,优化测试策略。