长鑫存储测试设备开发工程师 I Test Equipment Development Engineer(J17559)
任职要求
1、本科及以上学历，半导体，微电子、电子信息、电子工程，通信等相关专业优先； 2、具备良好沟通协作能力及一定工作抗压能力，有项目管理能力及经验优先； 3、熟悉半导体存储（DRAM/LPDRAM）或集成电路设计者优先； 4、了解内存框架模块和内存控制方法，有一定主板BIOS或SOC固件开发经验优先； 5、熟悉内存测试或者有上位机相关开发经验优先。
工作职责
1、前期介入,协助研发团队开发测试板以及自动化测试设备； 2、拉通研发和量产需求，保证测试方案在研发初期可以兼顾量产要求, 降低测试方案导入量产后的风险； 3、 编写相关SOP，主导研发方案在量产工厂的首次搭建和运行； 4、 跨部门沟通与协作，制定项目计划，保证测试方案顺利交付； 5、对量产端发生的问题，指导分析并提供解决方案。
1.程序开发 -量产设备或新量产平台程序开发与转换管理 -负责量产产品流程改善并释放标准作业流程 -新测试功能需求导入评估与功能实现 2.量产面向 -依据产能需求，推动测试时间优化与缩减 -产线软硬体问题改善与预防机制建立 -量产产线监控方案与低良率问题排除 3.测试治具开发： -第二供应商的量产测试板设计与验证 -配合新设备及器具导入评估与实验收集 4.新测试设备开发及导入 -调研或跟踪行业研发动态和突破性技术 -依据量产需求功能开发新的测试设备优化流程或降低成本
1.程序开发 -多平台CP或FT量产设备程序开发与转换管理； 负责多平台CP或FT量产产品流程改善并释放标准作业流程； 多平台新测试功能需求导入评估与功能实现； 2.面向量产 -依据产能需求,推动测试时问优化与缩减； -产线软硬体问题改善与预防机制建立； 量产产线监控方案与低良率问题排除； 3.测试治具开发: 第二供应商的CP或FT量产测试板验证之程序开发及协助验证； -配合新设备及器具导入评估与实验收集； 4.新测试设备开发及导入 依据未来量产需求之多平台,参子开发新的测试设备测试理中开发。
1． 负责ATE测试解决方案的测试程序开发认证，包含新量产平台建设和评估验证、国产化测试方案的评估导入、现有测试方案的持续优化和降本增效相关工作； 2． 负责测试设备的综合问题根因调查分析，数据统计等，包含验证用途测试程序的开发调试、波形的分析、芯片测试结论数据的分析统计和有关报告的整理； 3． 负责新产品、新工艺、新测试方案下的的测试治具的设计的程序调试、验证和导入工作； 4． 通过研发测试程序进行波形与数据分析定位故障原因或评价新设备、国产化设备、新治具等的测试系统性能；
1. 开发新的测试方法，构造完善的DRAM 芯片测试架构。 2. 根据CP测试的结果指导Fab 对相应的制程进行改善和验证 。 3. 利用数据挖掘对良率分析，失效分析以找出根本原因，提升产品良率。 4. CP程序优化，持续改进测试效率，包括流程优化，测试时间减少 TTR (Test Time Reduction)。 5. Fab制程变更风险评估，DRB/MRB风险评估和批次处置。