长鑫存储电路整理分析工程师 | Circuit Analysis Engineer(J16032)

1、对手机设备进行故障诊断和维修，主要关注主板上的硬件类故障； 2、使用专业的FA分析工具和设备，进行电路板、芯片、连接器等元件的检测和测试； 3、系统整理PCBA故障原因，进行分类后有效识别主要问题，并针对问题与研发、生产和器件部门紧密合作，改进产品设计和提升产品可靠性； 4、编写和维护故障分析报告，记录故障类型、原因分析及维修措施； 5、处理内部PCBA类失效分析案子，如可靠性失效，低良分析，应用验证失效等； 6、主导板级可靠性能力建立，协助团队从器件到主板以及整机设计进行中长期可靠性能力提升； 7、基于用户数据修正现有环境类/机械类/化学类可靠性模型； 8、关注行业发展及技术新趋势，研究并引入先进的失效分析技术以及可靠性研究。

1． 负责ATE测试解决方案的测试程序开发认证，包含新量产平台建设和评估验证、国产化测试方案的评估导入、现有测试方案的持续优化和降本增效相关工作； 2． 负责测试设备的综合问题根因调查分析，数据统计等，包含验证用途测试程序的开发调试、波形的分析、芯片测试结论数据的分析统计和有关报告的整理； 3． 负责新产品、新工艺、新测试方案下的的测试治具的设计的程序调试、验证和导入工作； 4． 通过研发测试程序进行波形与数据分析定位故障原因或评价新设备、国产化设备、新治具等的测试系统性能；

主导市场退回和产线失效件产品的失效分析工作，对产品失效模式和失效机理做深入分析定位，寻找最根源的失效原因，验证失效机理，并寻求改进机会, 持续推动产品质量提升。 职责描述: •负责市场退回件，生产线失效件的失效模式定位，寻找其根源的失效原因。 •与工程和工艺等相关部门，从技术角度识别和推动解决生产质量问题，对零部件或产品提出可靠性需求和控制措施。 •跟踪产线失效的异常表现，监视产品线的制造质量，确定问题的根本原因并反馈责任部门，并推动改善。 •根据失效分析的结果整理和lesson Learning,联合相关部门进行产品可靠性实验设计，产品可靠性评估，以及分析流程的优化。 •支持PFEMA策划和验证工作，对产品和过程相关的数据进行分析，识别产品和过程风险。

1，手机摄像头传感器的新技术的洞察，调研，解读与原理分析，竞品分析以及技术路线图制定 2，主导芯片类差异化产品创新，定制，预研与落地 3，参与影像camera模组的设计和开发，保障项目进度和质量，同时主导项目中硬件与芯片相关问题的解决